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Servicios Centrales de Investigación

Unidad de Microscopía de Fuerza Atómica y µRaman

Servicios

  • Microscopía Óptica de Campo Cercano (SNOM):
    • Detección de propiedades ópticas en muestras sólidas o secas (cambios en el índice de refracción, en la polarización de la luz, en la transparencia o en la reflectividad).
  • Microscopio de Fuerza Atómica (AFM):
    • Obtención de la imagen topográfica de la superficie de la muestra sólida o seca en modalidad de contacto y no contacto.
  • Microscopio Invia Reflex Raman:
    • Identificar y caracterizar de manera no destructiva y sin contacto la estructura química de la muestra.

Áreas de interés

Tanto la microscopía óptica de campo cercano como el microscopio de Fuerza Atómica (AFM) se aplican a multitud de ámbitos científicos como la biología, química, medicina, ingeniería, etc. Por otro lado, el microscopio Invia Reflex Raman suele utilizarse en el sector de la informática, la farmacia, los polímeros, los semiconductores y la química. Otras de sus aplicaciones incluye la identificación de drogas y de explosivos, análisis de pinturas y de pigmentos de obras de arte históricas, así como la identificación de las gemas y del origen de las mismas a través del análisis de las incrustaciones minerales que contienen.  

 

Equipamiento

 

  • Microscopio Óptico de Campo Cercano (SNOM)

  • Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) Explorer

  • Microscopio Invia Reflex Raman RENISHAW

Contacto

FICHA

 

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Responsable Científico
María Rosa López Ramírez
Silvia Centeno Benigno

 

Técnico Responsable
Cristina Ruano Frías

 

Teléfono de Contacto: 
952 13 73 91
952 13 22 56

 

Email:
cruano@uma.es
mrlopez@uma.es
scenteno@uma.es

 

Web:  
http://www.scai.uma.es/servicios/area_microscopia/afm/afm.html

Contactar

 

Localización:  
Edificio SCAI.
Planta Primera, B1-04 Campus de Teatinos s/n
29071 Málaga

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