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Servicios Centrales de Investigaci贸n

Unidad de Microscop铆a de Fuerza At贸mica y 碌Raman

Servicios

  • Microscop铆a 脫ptica de Campo Cercano (SNOM):
    • Detecci贸n de propiedades 贸pticas en muestras s贸lidas o secas (cambios en el 铆ndice de refracci贸n, en la polarizaci贸n de la luz, en la transparencia o en la reflectividad).
  • Microscopio de Fuerza At贸mica (AFM):
    • Obtenci贸n de la imagen topogr谩fica de la superficie de la muestra s贸lida o seca en modalidad de contacto y no contacto.
  • Microscopio Invia Reflex Raman:
    • Identificar y caracterizar de manera no destructiva y sin contacto la estructura qu铆mica de la muestra.

Áreas de interés

Tanto la microscop铆a 贸ptica de campo cercano como el microscopio de Fuerza At贸mica (AFM) se aplican a multitud de 谩mbitos cient铆ficos como la biolog铆a, qu铆mica, medicina, ingenier铆a, etc. Por otro lado, el microscopio Invia Reflex Raman suele utilizarse en el sector de la inform谩tica, la farmacia, los pol铆meros, los semiconductores y la qu铆mica. Otras de sus aplicaciones incluye la identificaci贸n de drogas y de explosivos, an谩lisis de pinturas y de pigmentos de obras de arte hist贸ricas, as铆 como la identificaci贸n de las gemas y del origen de las mismas a trav茅s del an谩lisis de las incrustaciones minerales que contienen.聽聽

 

Equipamiento

 

  • Microscopio 脫ptico de Campo Cercano (SNOM)

  • Microscopio de Fuerza At贸mica (AFM) Explorer

  • Microscopio Invia Reflex Raman RENISHAW

Contacto

FICHA

 

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Responsable Cient铆fico
Mar铆a Rosa L贸pez Ram铆rez
Silvia Centeno Benigno

 

T茅cnico Responsable
Cristina Ruano Fr铆as

 

Teléfono de Contacto: 
952 13 73 91
952 13 22 56

 

Email:
cruano@uma.es
mrlopez@uma.es
scenteno@uma.es

 

Web:  
http://www.scai.uma.es/servicios/area_microscopia/afm/afm.html

Contactar

 

Localización:  
Edificio SCAI.
Planta Primera, B1-04 Campus de Teatinos s/n
29071 M谩laga

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